半導体事業

ガリウムヒ素基板

当社のガリウムヒ素基板は、DVDなどのレーザー用途、LED用途、携帯電話などの電子デバイス用途などに、数多く用いられています。

ガリウムヒ素基板
用途
  • 高出力LD、VCSEL、Micro LED、表示用LED用基板として使用されています。
高出力産業用レーザー

高出力産業用レーザー

製品特徴
  • VGF法、LEC法にて単結晶を育成しています。
  • キャリア濃度高制御、低EPDの特徴があります。

VGF-n型

VGF-n型 LDグレード VGF-n型 LEDグレード
結晶成長法 VGF(Vertical Gradient Freezing)法 VGF(Vertical Gradient Freezing)法
ドーパント、導電型 N型:Siドープ N型:Siドープ
キャリア濃度 N-type (0.4-4)E18 cm-3
(上記範囲内での調整可能)
N-type (0.4-4)E18 cm-3
(上記範囲内での調整可能)
転位密度(EPD) (cm-2) EPDave≦200(LD)
EPDmax≦2,000(LD)
EPDave≦500(LED)
EPDmax≦5,000(LED)
サイズ 6インチ 4インチ 3インチ 2インチ 6インチ 4インチ 3インチ 2インチ
面方位 1. (100)0°~15°off±0.3
2. ご要望に応じます
1. (100)0°~15°off±0.3
2. ご要望に応じます
直径
(mm) 150.0±0.3 100.0±0.3 76.0±0.3
76.2±0.3
50.0±0.3
50.8±0.3
150.0±0.3 100.0±0.3 76.0±0.3
76.2±0.3
50.0±0.3
50.8±0.3
厚さ
(μm) 625/675
±25
450/625
±25
350/450
±25
350/450
±25
625/675
±25
450/625
±25
350/450
±25
350/450
±25
オリフラ長さ OF(mm)
IF(mm)
48.0±1.0
30.0±1.0
32.5±1.0
18.0±1.0
22.0±1.0
12.0±1.0
16.0±1.0
8.0±1.0
48.0±1.0
30.0±1.0
32.0±1.0
18.0±1.0
22.0±1.0
12.0±1.0
16.0±1.0
8.0±1.0
(ご要望に応じ調整可能) (ご要望に応じ調整可能)
オリフラ方位
OF位置
IF位置
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.05°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.05°/ [IF](011)±0.5°
(へき開、ベベルいすれも対応可能)
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.5°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.5°/ [IF](011)±0.5°
ノッチ OK 不可 不可 不可 OK 不可 不可 不可
外周加工 べべル べべル
加工精度 TTV(μm) ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0(TV) ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0(TV)
加工精度 Warp(μm) ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0 ≦15.0 ≦15.0 ≦15.0 ≦15.0
面仕上げ
表面
表面 ミラー ミラー
面仕上げ
裏面
裏面 ラップ後エッチ(ミラー加工も可能) ラップ後エッチ(ミラー加工も可能)
表面処理 エピレディ エピレディ
レーザーマーク オプション オプション
梱包形態 カセット カセット又は個装トレイ カセット カセット又は個装トレイ

VGF-p型

VGF-p型 Znドープ VGF-p型 Zn+Siドープ
結晶成長法 VGF(Vertical Gradient Freezing)法 VGF(Vertical Gradient Freezing)法
ドーパント、導電型 P型:Znドープ P型:Zn+Siドープ
キャリア濃度 P-type (0.5-3)E19 cm-3
(上記範囲内での調整可能)
P-type (0.5-3)E19 cm-3
(上記範囲内での調整可能)
転位密度(EPD) (cm-2) EPDave</=3,000
EPDmax</=10,000
EPDave</=1,500
EPDmax</=10,000
サイズ 4インチ 2インチ 4インチ 2インチ
面方位 1. (100)0°/2°off±0.3
2. ご要望に応じます
1. (100)0°/2°off±0.3
2. ご要望に応じます
直径 (mm) 100.0±0.3 50.0±0.3
50.8±0.3
100.0±0.3 50.0±0.3
50.8±0.3
厚さ (μm) 450/625
±25
350/450
±25
450/625
±25
350/450
±25
オリフラ長さ OF(mm)
IF(mm)
32.5±1.0
18.0±1.0
16.0±1.0
8.0±1.0
32.5±1.0
18.0±1.0
16.0±1.0
8.0±1.0
(ご要望に応じ調整可能) (ご要望に応じ調整可能)
オリフラ方位 OF(mm)
IF(mm)
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.05°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.05°/ [IF](011)±0.5°
(へき開、ベベルいすれも対応可能)
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.05°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.05°/ [IF](011)±0.5°
(へき開、ベベルいすれも対応可能)
外周加工 べべル べべル
加工精度 TTV(μm) ≦10.0 ≦10.0(TV) ≦10.0 ≦10.0(TV)
Warp(μm) ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0 ≦10.0
面仕上げ 表面 ミラー ミラー
裏面 ラップ後エッチ(ミラー加工も可能) ラップ後エッチ(ミラー加工も可能)
表面処理 エピレディ エピレディ
レーザーマーク オプション オプション
梱包形態 カセット又は個装トレイ カセット又は個装トレイ

半絶縁性

VGF-半絶縁性 LEC-半絶縁性
結晶成長法 VGF(Vertical Gradient Freezing)法 LEC(Liquid Encapsulated Czochralski )法
ドーパント、導電型 半絶縁性:アンドープ(Cドープ) 半絶縁性:アンドープ(Cドープ)
抵抗率 (at 25℃)(Ω cm) ≥1E7
(上記範囲内での調整可能)
≥1E7
(上記範囲内での調整可能)
転位密度(EPD) (cm-2) EPDave≤5000 EPDave≤10^5
サイズ 4インチ 3インチ 4インチ 3インチ
面方位 1. (100)0°/2°off±0.3
2. ご要望に応じます
1. (100)0°/2°off±0.3
2. ご要望に応じます
直径 (mm) 100.0±0.3 76.0±0.3
76.2±0.3
100.0±0.3 76.0±0.3
76.2±0.3
厚さ (μm) 450/625
±25
350/450
±25
450/625
±25
350/450
±25
オリフラ長さ OF(mm)
IF(mm)
32.5±1.0
18.0±1.0
22.0±1.0
12.0±1.0
32.5±1.0
18.0±1.0
22.0±1.0
12.0±1.0
(ご要望に応じ調整可能) (ご要望に応じ調整可能)
オリフラ方位 OF(mm)
IF(mm)
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.5°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.5°/ [IF](011)±0.5°
EJ (Dove-Tail):[OF] (0-1-1)±0.5°/ [IF](0-11)±0.5°
又は、
SEMI US (V-Groove):[OF] (01-1)±0.5°/ [IF](011)±0.5°
外周加工 べべル べべル
加工精度 TTV(μm) ≤10.0 ≤10.0 ≤10.0 ≤10.0
加工精度 TIR(μm) ≤5.0 ≤5.0 ≤5.0 ≤5.0
加工精度 Warp(μm) ≤10.0 ≤10.0 ≤10.0 ≤10.0
面仕上げ 表面 ミラー ミラー
裏面 ラップ後エッチ(ミラー加工も可能) ラップ後エッチ(ミラー加工も可能)
表面処理 エピレディ エピレディ
レーザーマーク オプション オプション
梱包形態 カセット又は個装トレイ カセット又は個装トレイ

お問い合わせ

お問い合わせ先

DOWAエレクトロニクス株式会社 半導体事業部
〒101-0021 東京都千代田区外神田四丁目14番1号
秋葉原UDX 22階
TEL:03-6847-1253  FAX:03-6847-1260